① 合成了一种无机盐，TEM中有晶格条纹且为多晶环，但XRD为无定形包，不知道什么原因
可能是TEM发现的是一个很小的局部，在XRD里就显示不出来了吧
② xrd的晶相,透射怎么表达晶面间距
测量晶面间距的方法：
1.打开软件，出现窗口
2.打开一个透射数据（dm3文件），点击按钮，将光标移向要测晶格条纹的区域，在垂直于要测的晶格条纹方向画条直线
3.点击按钮，数十个峰，得到数据。
③ 如何分析高分辨透射电镜晶格条纹间归属于哪个晶面
如果在TEM图像中看到晶格条纹，可对标定后的图像进行FFT，得到一对或多对点，（如果点足够多，也可能是看到环或者弧线段，但都可以看成是点的集合），量取点到中心的距离（单位是nm^-1），求倒数，即为所对应晶面的晶面间距（单位是nm）。
原理上，这样的测算结果跟直接在TEM图像上测量晶格条纹的间距得到的结果是一样的，但实际上通过FFT得到的是大量同类晶面的统计结果，精度远高于直接测量，有很多时候直接测量甚至是无法完成的。FFT测算出的晶面间距，其数值可于XRD卡片中的某个d值对应。
通过HRTEM的高分辨衬度条纹，可以量出相应的晶面间距为0.5nm，可以对材料的PDF卡片看下这个间距对应的是哪个晶面的晶面间距，这样就可以把条纹所代表的晶面确定下来。
④ 透射电子显微镜
透射电子显微镜，简称透射电镜，英文名为Transmission Electron Microscope，缩写为TEM，是一种利用高速运动的电子束作为光源，穿透固体样品，再经过电磁透镜成像的显微镜。
透射电镜由电子光学系统、观察记录系统、真空和冷却系统以及电源系统等组成。电子光学系统又可分为照明系统和成像系统两部分，它们和观察记录系统一起置于抽真空的镜筒之中。样品台在照明系统和成像系统之间（图5-3）。
图5-3 透射电子显微镜结构示意图
（据日本JEOL株式会社）
透射电镜的成像原理与光学显微镜类似，其图像是成像平面上由透射电子密度的差异所形成的明暗不一的衬度像。这种密度差异可通过荧光屏或照相底片的转换进行观察。按其衬度来源的不同，透射电镜图像可分为质厚衬度像、衍射衬度像、相位衬度像和Z衬度像四种。限于篇幅本小节简要介绍常用的质厚衬度像和衍射衬度像。
质厚衬度像的衬度是由样品的质量和厚度的差异所引起的。它适合于对炭黑等非晶质样品进行观察。衍射衬度像，简称衍衬像。它的衬度是由样品各部位满足布拉格（bragg）衍射条件的程度不同所引起的，它所反映的是样品各部位对入射电子衍射强度的差异。衍衬像可分为明场像和暗场像。明场像（Bright-Field Image，缩写为BFI）采用透射束成像，所形成的是亮背景上的暗像（图5-4）。暗场像（Dark-Field Image，缩写为DFI）只选用某一衍射束成像，所形成的是暗背景上的亮像。由于衍射衬度与衍射条件密切相关，对晶体内衍射面网取向的变化十分敏感，因而是研究晶体缺陷的有力手段。
长期以来，透射电镜的图像都是通过观察室的荧光屏进行观察，用照相底片进行记录的。近年来可在照相底片位置配备CCD相机使图像数字化，便于用计算机储存。
图5-4 泰州陨石中橄榄石位错的明场像
（张富生提供）
透射电镜最突出的优点是图像分辨率和有效放大倍数高，其点分辨率（图像中可分辨的两点之间最短的距离）约为0.17～0.20nm，晶格分辨率（晶格条纹像中条纹间最短的距离）为0.1～0.14nm。经球差校正的透射电镜，分辨率达0.08nm，能放大100万倍，几乎能分辨晶体中所有原子的排列。
透射电镜另一个特点是，在成像系统中插入一选区光阑就能够获得电子衍射花样，在观察图像的同时在原地进行结构分析（请参阅本章第四节）。电子衍射与X射线衍射的原理基本相同，所获得的衍射花样也很相似。
透射电镜对样品的基本要求是：①为了使电子束穿透样品，其厚度应在100nm以下；②在制样过程中，样品的超微结构必须得到完好的保存，应严格防止样品结构和性质发生改变以及样品遭受污染等；③样品应牢固地置于直径为3mm的专用铜网上，以便能经受电子束的轰击，并防止在装卸过程中的机械振动而损坏；④样品必须导电。对于非导电样品，应在其上喷一层很薄的碳膜。对于地质样品，通常是先磨制成薄片，并在偏光显微镜下进行观察，选择需要深入研究的部位，切割取下，黏结在铜网上，再置于离子减薄仪中进行减薄，直至局部穿孔，其边缘部位即可在透射电镜下观察。
配备了X射线能谱仪的透射电镜，在观察图像的同时还可在原地进行微区的元素成分分析。
⑤ 如何分析TEM的晶格条纹
如何分析TEM的晶格条纹
首先你得知道是什么晶体，然后通过图测量晶面间距，再与该晶体的各个面晶面间距比较，与测量结果再误差范围内相等的那个就是该晶面。