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美國泰瑞達存儲器測試設備

發布時間: 2023-02-16 11:12:53

A. 泰瑞達有限公司怎麼樣

簡介:泰瑞公司(Teradyne Inc.)達成立於1960年,總部設於美國馬薩諸塞州諾斯瑞鼎市( North Reading)。作為全球最大的自動測試設備供應商之一以及全球最大的集成電路自動測試設備供應商,泰瑞達連同其附屬公司在全球提供自動測試設備的產品和服務,設有半導體測試、電路板測試、車輛診斷解決方案部門。業務遍布美國、東南亞、台灣、日本、新加坡和歐洲。產品主要是用於半導體、板卡及電子系統的測試平台。泰瑞達為包括處理器、微控制器、消費類電子產品、汽車電子、存儲器、混合訊號IC、片上系統、射頻身份識別IC及通信系統在內的電子產品提供優質高效的測試方案。泰瑞達的客戶均為全球頂尖的半導體、電子、自動化及通訊設備廠商。在半導體測試設備供應商中,泰瑞達是唯一能覆蓋模擬,混合信號,存儲器及VLSI器件等所有領域的。泰瑞達的客戶均為全球頂尖的半導體、電子、自動化及通訊設備廠商,包括Motorola、 Philips Semiconctor、Texas Instrument、 Cisco、 3Com、中芯國際、ChipPac、華為、貝嶺等。2006年泰瑞達售出連接系統測試部門,以取得更充裕的資金專注其核心事業,以對抗來自Advantest,Verigy 與Eagle Test Systems的競爭。2011年10月6日泰瑞達宣布已經完成對萊特波特公司 (LitePoint Corporation) 的收購。2001年在上海成立中國總公司,並在深圳設有分公司;公司的合作夥伴在北京,上海,深圳,崑山設有銷售和服務機構。目前在全球擁有員工約3200名。截至2010年末,營收逾16億美元,凈利潤近3.8億美元。公司在紐約證交所上市,股票代碼TER。

B. 什麼是TR8001,FCT,ATE各自都是做用的~~真心想學~~

TR8001為一高速高效能的檢測設備,擁有完善的檢測系統,配合快速的程式發展流程及清楚易懂的測試程式,1:1的Driver/Receiver Ratio使用上更為方便,並且通過ISO 9000及 CE 安規認證,提高產品品質及生產直通率之利器.
http://www.shebei114.cn/tradeinfo/offerdetail/39-1050-3358-10085.html

FCT就是Function-CircuitTesting也就是功能測試。
FCT技術員就是電子工程測試(檢修)技術員。

ATE是自動化測試設備的英文縮寫,是一種通過計算機控制進行器件、電路板和子系統等測試的設備。通過計算機編程取代人工勞動,自動化的完成測試序列。
ATE在60年代早期始於快捷半導體(Fairchild)。 那時Fairchild生產門電路器件(如14管腳雙列直插與非門IC)和簡單的模擬集成電路器件(如6管腳雙列直插運算放大器)。當時對於器件量產測試是一個很大的問題。 Fairchild開發了計算機控制的測試設備,如5000C用於簡單模擬器件測試,Sentry 200用於簡單門電路器件測試。兩種機器都是由Fairchild自主開發的計算機FST2進行控制。FST2是一種簡單的24位,10MHz計算機。
70年代早期,器件開發由小規模集成電路過渡到中規模集成電路,又於80年代早期從大規模集成電路過渡到超大規模集成電路。對於器件製造商來說,這時計算機控制的測試系統已經成為主要的測試設備。Fairchild開發了Sentry 400, Sentry 600, Sentry 7, Sentry 8測試系統用於數字器件測試。
80年代中期,門陣列器件開發成功,測試方面要求達到256管腳,速度高於40MHz。
針對這一需求,Fairchild 試圖開發Sentry 50,但是失敗了。Fairchild將其ATE部門賣給斯倫貝謝,成為斯倫貝謝測試系統公司。Fairchild將測試系統賣給斯倫貝謝以後,許多專家離開了Fairchild加入Genrad,成立了Genrad西海岸系統公司。GR16 和 GR18數字測試系統由這里誕生了。這些新型的測試系統每個管腳有獨立的測試資源,管腳數最多達144。不久這些工程師離開Ganrad成立了Trillium測試系統,並將其賣給LTX。之後這些工程師又離開了LTX,他們中的一些加入了科利登(Credence),其它人加入了其他的ATE公司。
同一時期,泰瑞達的自動化測試設備在模擬測試和存儲器測試方面占據統治地位。90年代早期Intel開發成功高速、高管腳數的單片處理器單元(MPU),隨之而來的是高速高管腳數的ATE。多媒體器件的出現使ATE變得更復雜,需要同時具有數字電路、模擬電路和存儲器電路的測試能力,SoC測試系統應運而生。

目前器件速度已經達到1.6GHz,管腳數達到1024,所有的電路都集成到單個晶元。因此出現了真正系統級晶元測試的需求。
ATE可以由帶一定內存深度的一組通道,一系列時序發生器及多個電源組成。這些資源是通過負載板把信號激勵到晶元插座上的晶元管腳。

ATE可分為以下幾種類型:
*數字測試系統—— 共享資源測試系統,每個管腳有獨立測試資源的測試系統。用來特性化測試集成電路的邏輯功能。如科利登的SC312和Quartet。
*線性器件測試系統——用來測試線性集成電路的測試系統。
*模擬測試系統——用來特性化測試集成電路的模擬功能。如科利登的ASL系列。
*存儲器測試系統 - DRAM 測試系統,快閃記憶體測試系統。這些類型的自動化測試設備用於驗證內存晶元。如科利登的Personal Kalos和Kalos系列,Agilent 的Versatest系列, Advantest的T5593。
*板測試系統 - 板測試是用來測試整塊印製電路板,而不是針對單個集成電路。如泰瑞達的1800。
*混合信號測試系統——這種類型的系統資源用來測試集成電路的模擬及數字功能。 如科利登的Quartet系列。
*RF測試系統——用來測試射頻集成電路的測試。如科利登的ASL 3000RF和SZ-Falcon。
*SOC 測試系統——通常就是一個昂貴的混合信號集成電路測試系統,用來測試超大規模集成電路(VLSI)晶元;並且這種超大規模集成電路(VLSI)晶元的集成度比傳統的混合信號晶元高得多。如科利登的Octet系列, Agilent的93000系列, Advantest的T6673。
ATE開發是從簡單器件、低管腳數、低速測試系統(10 MHz, 64 pins)到中等數量管腳、中速測試系統(40 MHz, 256 pins)到高管腳數、高速(超過100 MHz, 1024 pins)並最終過渡到現在的SoC測試系統(1024 pin, 超過400MHz,並具備模擬、存儲器測試能力)。
未來的測試系統測試速度將超過1.6GHz,時序精度在幾百納秒范圍內,並將數字、模擬、存儲器和RF測試能力集成於一台測試系統。
這樣一台測試系統的成本將非常高,因此需要使用一台或多台測試工作台進行並行的器件測試。為了降低測試成本,晶元中將加入自測試電路。同時基於減少測試系統成本的考慮,模塊化的測試系統將取代通用的測試系統。

C. TER是美國品牌嗎

TER是美國品牌。

美商泰瑞達(Teradyne) (紐約證券交易所代號:TER),總公司設立在美國麻薩諸塞州North Reading。

泰瑞達是全球著名的自動測試設備(Automatic Test Equipment)供應商· 泰瑞達的測試產品主要用於半導體,板測試,聲頻,寬頻電話網路生產廠家。

泰瑞達是全球著名的自動測試設備(Automatic Test Equipment)供應商. 泰瑞達的測試產品主要用於半導體,板測試,聲頻,寬頻電話網路生產廠家。

國內外知名企業如Motorala, Philips Semiconctor, Texas Instrument, Cisco, 3Com,中芯國際,ChipPac, 華為,貝嶺等皆為公司客戶。

在2003年,該公司營業業績為美金14億元。2005年,該公司在系統整合晶片的元件測試市場中,市佔率最高。在2006年,該公司全球約有3800名員工。